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半导体二极管的伏安特性曲线

作者:佚名    文章来源:本站原创    点击数:4691    更新时间:2016/10/19
  半导体二极管的伏安特性曲线如图1所示。处于第一象限的是正向伏安特性曲线,处于第三象限的是反向伏安特性曲线。
二极管的伏安特性曲线
图1 二极管的伏安特性曲线

1. 正向特性
    当V>0,即处于正向特性区域。正向区又分为两段:
    当0<VVth时,正向电流为零,Vth称为死区电压或开启电压。
    当VVth时,开始出现正向电流,并按指数规律增长。
    硅二极管的死区电压Vth=0.5 V左右,
    锗二极管的死区电压Vth=0.1 V左右。

2. 反向特性
    当V<0时,即处于反向特性区域。反向区也分两个区域:  
    当VBR<V<0时,反向电流很小,且基本不随反向电压的变化而变化,此时的反向电流也称反向饱和电流IS
    当V≥VBR时,反向电流急剧增加,VBR称为反向击穿电压
    在反向区,硅二极管和锗二极管的特性有所不同。硅二极管的反向击穿特性比较硬、比较陡,反向饱和电流也很小;锗二极管的反向击穿特性比较软,过渡比较圆滑,反向饱和电流较大。从击穿的机理上看,硅二极管若|VBR|≥7V时,主要是雪崩击穿;若VBR≤4V则主要是齐纳击穿,当在4V~7V之间两种击穿都有,有可能获得零温度系数点。


Tags:半导体,伏安特性曲线  
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